CW2010-ZFA裂像顯微鏡特點(diǎn):
以裂像聚焦指示器為測(cè)量原理, 采用高精度光學(xué)聚焦點(diǎn)檢測(cè)方式進(jìn)行非接觸高低差測(cè)量。不僅可以對(duì)準(zhǔn)目標(biāo)影像, 還能觀察測(cè)量點(diǎn)的表面狀態(tài),對(duì)高度,深度,高低差等進(jìn)行測(cè)量。本儀器的各種鏡筒還具有明暗場(chǎng),微分干涉,金相,偏光等多種觀察功能。所以對(duì)極細(xì)微的間隙高低差,夾雜物、微米以下的突起、細(xì)微劃痕、以及金相組織進(jìn)行觀察。
更新時(shí)間:2016-08-19型號(hào):廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
現(xiàn)在聯(lián)系