BMT-300透反射硅片顯微鏡
可以觀察到肉眼難觀測(cè)的位錯(cuò)、劃痕、崩邊等;還可以對(duì)硅片的雜質(zhì)、殘留物成分分析.雜質(zhì)包括:顆粒、有機(jī)雜質(zhì)、無(wú) 機(jī)雜質(zhì)、金屬離子、硅粉粉塵等,造成磨片后的硅片易發(fā)生變花、發(fā)藍(lán)、發(fā)黑等現(xiàn)象,使磨片不合格. 是太陽(yáng)能電池硅片生產(chǎn)企業(yè)進(jìn)行質(zhì)量控制Z普通的儀器。
更新時(shí)間:2016-11-01型號(hào):廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
現(xiàn)在聯(lián)系